檢索結果：共7筆資料 檢索策略： "機械工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="光柵"
個人化服務 ：
排序：
每頁筆數：
已勾選0筆資料
1
本研究提出一套創新的弦波調制雙繞射光柵干涉儀，用以進行精密位移及旋轉角量測。此套干涉儀是以弦波訊號來針對WP雙折射晶體進行訊號調制，達到外差訊號調制的目的，進而降低環境低頻擾動對量測結果所造成的影響…
2
本研究提出一套創新的六自由度聚焦式雷射光學尺量測技術，其系統架構簡單，架設與校正容易，可用以進行精密位移及旋轉角度量測。此套量測技術的開發主要是以「光柵干涉術」為技術核心，輔以外差調制技術及自行設計…
3
本研究提出一套以「雙繞射」為設計概念進行系統開發的雙繞射式雷射光學尺，用以進行位移及旋轉角量測。此套雙繞射式雷射光學尺系統整合外差干涉術、光柵干涉術、雙繞射光路及分光技術等設計概念進行開發，使系統具…
4
本研究主要提出一套創新的Wollaston雷射光學尺量測系統，用以進行六自由度線性位移及旋轉角位移之精準量測。此套光學尺系統主要結合外差干涉術、光柵剪切干涉術、Wollaston prism共光程光…
5
本研究提出一套以準共光程光路架構為設計概念的新式雷射干涉儀，用以進行六自由度位移及旋轉角量測。此套干涉儀系統結合外差、光柵剪切、麥克森干涉術等技術，具備高解析度、高穩定度及六自由度(6-DOF)之量…
6
本文旨在探討一種有關變形量的量測方式，將一片反射式的光柵薄膜緊密黏貼在待檢測的物體上，並使用雷射照射在光柵上，此時光柵會產生繞射光，當待檢測的物體有變形量時，光柵片也會隨之變形，而使得光柵的條紋密度…
7
本文旨在研究利用繞射光學方式結合位置感測器(PSD)來量測物體變形量之方法。將反射式薄膜光柵緊貼於待測物體上，當雷射光源照射於光柵上時，會因為繞射現象而產生繞射光，本文主要擷取+1號及-1號繞射光在…